- 100MHz FPGA时序电路设计
- 可选彩色和灰度显示屏
- A/B扫描
- 手动调节增益和自动增益控制（AGC），范围：100dB
- 自动时间相关增益（TDG）
- 多种测量模式
· 脉冲-回波（P-E）模式：测量材料厚度
· 脉冲-回波涂层（PECT）模式：同时测量材料和涂层厚度
· 脉冲-回波温度补偿（PETP）模式：测量材料厚度
· 回波-回波（E-E）模式：穿过涂层测量材料厚度
· 回波-回波验证（E-EV）模式：穿过涂层测量材料厚度
· 测量涂层（CT）模式：只测量涂层厚度
- 双晶探头和单晶探头（延迟块、接触式、笔形）
- USB Type-C数据接口
- 内置4GB SD存储卡
测量：
- 脉冲-回波（P-E）模式测量范围：0.63mm~30.48mm（钢）
- 脉冲-回波涂层（PECT）模式测量范围：0.63mm~30.48mm（钢），0.0254~2.54mm（涂层）
- 脉冲-回波温度补偿（PETP）模式，测量范围：0.63~30.48mm（钢）
- 回波-回波（E-E）模式测量范围：2.54~152.4mm（钢，穿过涂层测量，范围取决于涂层）
- 回波-回波验证（E-EV）模式测量范围：2.54~102mm（钢，穿过涂层测量，范围取决于涂层）
- 测量涂层（CT）模式测量范围：0.0127~2.54mm（涂层）
- 分辨率：0.01mm和0.001mm
- 声速范围：309.88~18542m/s
- 单位：公制或英制
- 一点和两点校准方式
显示：
- 显示屏：1/8英寸VGA灰度显示，240x160像素
- 可视区62x45.7mm，EL背光，20Hz刷新频率。可选1/4英寸彩色显示屏，320x240像素，可视区43.2x57.6mm，60Hz刷新频率
- A-扫描方式：检波+/-（缺陷视场），RF（全波视场），纵向和横向视图（仅彩屏）
- B-扫描方式：基于时间的横截面视图。显示速度为每秒10到200个读数
- 大数字方式：标准厚度显示，数字高度17.78mm（灰度），14.35mm（彩屏），厚度条形扫描：速度10Hz，在B-扫描和大数字显示模式中可见
- 稳定度指示：表示测量值的稳定性
- 功能状态指示：显示当前激活的功能
超声波参数：
- 测量模式：P-E、PECT、PETP、E-E、E-EV、CT模式
- 脉冲：可调方波脉冲发生器
- 接收：根据选择模式采用手动调节增益或自动增益控制（AGC），范围：110DB
- 阻抗：50~1500Ω可调
- 计时：单次100MHz8位超低功耗数字化仪的精确TXCO计时
- 脉冲重复频率：250Hz
探头：
- 频率范围：1~20MHz
- 双晶探头
- 延迟块、接触式、笔形单晶探头
- LEMO接口，1.2米探头线
- 可定制用于特殊应用的探头
存储：
- 容量：内置4GB SD卡
- 数据结构：网格（字母数字）和顺序（自动识别）
- 截屏功能：位图图形捕获，用于快速记录
其他：
- 键盘：12个触摸键
- 电源：标配为三节5号碱性电池，电量状态指示。无操作五分钟后自动关机。USB Type-C供电
- 外壳：挤压铝机壳，底盖用镀镍铝板加密封垫封装
- 工作温度：-10~60°C
- 尺寸：63.5x165x31.5mm
- 重量：385g（包括电池）
- 符合NIST和MILSTD-45662A标准
探头参数：
| 探头型号 |
频率 |
探头尺寸 |
说明 |
| T-102-2900 |
5MHz |
晶片直径6.35mm，防磨面直径9.53mm，测量范围1.0~152.4mm |
高阻抗双晶探头（标配探头） |
| T-042-5507 |
15MHz |
晶片直径6.35mm |
单晶延迟块探头 |
| T-4023-2855 |
5MHz |
晶片直径6.35mm |
单晶接触式探头 |
| T-4023-4855 |
10MHz |
晶片直径6.35mm |
单晶接触式探头 |
