达高特 CMX2-DL 超声波测厚仪

产品概述：

美国DAKOTA达高特CMX2-DL多功能超声波测厚仪是基于FPGA技术的100MHz数字信号处理平台设计的高性能测厚仪。它采用双通道-双脉冲发生器和接收器，支持6种测量模式，内置4GB SD卡存储，适用于精密厚度测量、涂层检测及复杂工业环境。CMX2-DL是原CMXDL+的升级替代型号，在信号处理、显示刷新和探头兼容性方面均有显著提升。

主要特点：

• > 基于FPGA的100MHz数字信号处理平台
• > 双通道-双脉冲发生器和接收器
• > 250Hz脉冲重复频率（PRF）
• > 1/8英寸VGA灰度显示屏，240x160像素，EL背光，刷新率25Hz
• > 100dB可调增益范围，自动增益控制（AGC）
• > 时间相关增益（TDG）具有可调斜率
• > 支持双晶探头和单晶探头（延迟块、接触式、笔形）
• > 内置4GB SD卡，字母数字网格存储和顺序存储
• > USB Type-C数据接口，支持截屏和数据传输
• > 美国制造，符合NIST和MILSTD-45662A标准
• > 替代型号：CMX2-DL替代CMXDL+

超声波参数：

• > 测量模式：P-E、PECT、PETP、E-E、E-EV、CT共6种模式
• > 脉冲：可调方波脉冲发生器
• > 接收：手动调节增益或自动增益控制（AGC），范围110dB，阻抗50~1500Ω可调
• > 计时：单次100MHz 8位超低功耗数字化仪的精确TCXO计时
• > 脉冲重复频率：250Hz

探头配置：

• > 频率范围：1~20MHz
• > 探头类型：双晶探头，以及延迟块、接触式、笔形单晶探头
• > 接口：LEMO 00接口，1.2米探头线
• > 特点：自动探头识别（部分探头），宽频带兼容

测量范围：

• > 脉冲-回波（P-E）模式测量范围：0.63mm~30.48mm（钢）
• > 脉冲-回波涂层（PECT）模式测量范围：0.63~30.48mm（钢），0.0254~2.54mm（涂层）
• > 脉冲-回波温度补偿（PETP）模式，测量范围：0.63mm~30.48mm（钢）
• > 回波-回波（E-E）模式测量范围：2.54~152.4mm（钢，穿过涂层测量，范围取决于涂层）
• > 回波-回波验证（E-EV）模式测量范围：2.54~102mm（钢，穿过涂层测量，范围取决于涂层）
• > 测量涂层（CT）模式测量范围：0.0127~2.54mm（涂层）
• > 分辨率：0.01mm和0.001mm
• > 声速范围：309.88~18542m/s
• > 单位：公制或英制
• > 一点和两点校准方式

存储功能：

• > 容量：内置4GB SD卡，大容量数据存储
• > 数据结构：网格（字母数字）和顺序（自动识别）存储
• > 屏幕捕获：位图图形捕获，用于快速记录
• > 数据输出：通过USB Type-C传输到计算机

其他规格：

• > 操作按键：12个触摸键，操作便捷
• > 电源：标准配置为三节5号碱性电池，电量状态指示。无操作五分钟后自动关机。可用USB Type-C供电
• > 外壳：挤压铝机壳，底盖用镀镍铝板加密封垫封装，坚固耐用
• > 工作温度：-10~60℃
• > 尺寸重量：63.5×165×31.5mm，385g（包括电池）
• > 符合标准：NIST和MILSTD-45662A标准

6种测量模式详解：

应用领域：

常规可选探头：

DAKOTA CMX2-DL超声波测厚仪常规可选探头表

探头型号	频率	晶片直径	说明
T-102-2900	5.0MHz	晶片Ø6.35mm，防磨面Ø9.53mm  测量范围：1.0~152.4mm	标准CT双晶探头（随机标准配置，可测涂层）
T-402-5507	15MHz	晶片Ø6.35mm	单晶接触式探头
T-4023-2855	5MHz	晶片Ø6.35mm	单晶接触式探头
T-4023-4855	10MHz	晶片Ø6.35mm	单晶接触式探头