产品展示
Product display美国达高特DAKOTA CMX3-DL是一款基于FPGA技术的100MHz数字信号处理平台的多功能超声波测厚仪。配备1/4英寸AMOLED彩色显示屏(320x240,60Hz刷新率),支持A扫描、B扫描及大数字显示,内置4GB SD卡,可通过USB Type-C传输数据。
CMX3-DL是原CMXDL+彩屏版的升级替代型号,测量功能更强大,适用于苛刻的腐蚀监测和精密测厚,并以其卓越的彩色显示和快速刷新成为复杂工况下的首选。
美国DAKOTA达高特CMX3-DL多功能超声波测厚仪作为CMXDL+彩屏版的升级型号,在保留了所有经典功能的同时,增加了自动增益控制(AGC)、时间相关增益(TDG)、阻抗匹配调节(50-1500Ω)等先进特性,确保在各种复杂工件上获得稳定测量结果。美国制造,符合NIST标准,广泛应用于石油化工、航空航天、电力、冶金等领域。
CMX3-DL提供了业界领先的测量组合:
> 脉冲-回波(P-E)模式用于标准壁厚测量;
> 回波-回波(E-E)模式可穿透涂层直接测量金属基体厚度,忽略表面涂层厚度,测量范围达2.54~152.4mm;
> 脉冲-回波涂层(PECT)模式同时显示金属厚度和涂层厚度;
> CT涂层模式独立测量涂层(0.0127~2.54mm);
> 温度补偿模式(PETP)适合温度变化环境下的精确测厚。
> 所有模式均可配合100dB增益范围和TDG,保证测量稳定性
> 仪器同时具备:A扫描波形显示(检波+/-/RF全波)及B扫描截面视图,厚度条形扫描
| 探头型号 | 频率 | 晶片直径/说明 | 典型应用 |
|---|---|---|---|
| T-102-2900 | 5.0MHz | 晶片Ø6.35mm,防磨面Ø9.53mm 测量范围:1.0~152.4mm(钢) |
标准CT双晶探头,可测涂层,随机配置 |
| T-402-5507 | 15MHz | 晶片Ø6.35mm | 单晶接触式,用于薄材料及精细分辨 |
| T-4023-2855 | 5MHz | 晶片Ø6.35mm | 单晶接触式,穿透力强,适用于粗晶/铸件 |
| T-4023-4855 | 10MHz | 晶片Ø6.35mm | 单晶接触式,通用中频,精度高 |
| T-702-4326 | 2.25MHz | 晶片Ø12.7mm | 双晶探头,用于厚壁、衰减材料 |
*更多高温探头、延迟块探头、微型探头请联系简测实业销售工程师。
温馨提示:
本产品为专业工业测量仪器,建议由经过培训的专业人员操作使用。如需技术咨询或购买,请联系我们的销售工程师(189-3994-5529)
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