当前位置:主页 > DAKOTA / 达高特 > 达高特CMX3-DL超声波测厚仪

产品展示

Product display

达高特 CMX3-DL 超声波测厚仪

美国达高特DAKOTA CMX3-DL是一款基于FPGA技术的100MHz数字信号处理平台的多功能超声波测厚仪。配备1/4英寸AMOLED彩色显示屏(320x240,60Hz刷新率),支持A扫描、B扫描及大数字显示,内置4GB SD卡,可通过USB Type-C传输数据。

CMX3-DL是原CMXDL+彩屏版的升级替代型号,测量功能更强大,适用于苛刻的腐蚀监测和精密测厚,并以其卓越的彩色显示和快速刷新成为复杂工况下的首选。

简测实业logo背景 简测实业企业愿景 美国DAKOTA达高特CMX3-DL多功能超声波测厚仪主机正面展示图

达高特CMX3-DL超声波测厚仪详细介绍

产品概述:

美国DAKOTA达高特CMX3-DL多功能超声波测厚仪作为CMXDL+彩屏版的升级型号,在保留了所有经典功能的同时,增加了自动增益控制(AGC)、时间相关增益(TDG)、阻抗匹配调节(50-1500Ω)等先进特性,确保在各种复杂工件上获得稳定测量结果。美国制造,符合NIST标准,广泛应用于石油化工、航空航天、电力、冶金等领域。


主要技术参数:

  • > 测量模式:P-E / PECT / PETP / E-E / E-EV / CT
  • > 测量范围(钢):P-E模式0.63~30.48mm;E-E模式2.54~152.4mm(取决于探头/涂层);涂层模式0.0127~2.54mm
  • > 分辨率:0.01mm / 0.001mm可选
  • > 声速范围:309.88~18542 m/s
  • > 显示:1/4英寸AMOLED彩色屏,320x240像素,60Hz刷新率,可视区43.2x57.6mm
  • > A扫描:检波+/-、RF全波,纵向/横向视图(仅CMX3-DL)
  • > B扫描:基于时间的横截面视图,速度10~200读数/秒
  • > 增益:手动0~110dB可调,自动增益控制(AGC)
  • > 时间相关增益(TDG):斜率可调
  • > 脉冲发生器:可调方波,阻抗50~1500Ω
  • > 数据存储:内置4GB SD卡,网格/顺序存储,BMP截图
  • > 接口:USB Type-C (数据与供电)
  • > 电源:三节5号碱性电池,USB供电,自动关机
  • > 工作温度:-10~60℃
  • > 尺寸/重量:63.5x165x31.5mm / 385g(含电池)
  • > 符合标准:NIST, MILSTD-45662A

★ 核心优势与特点:

  • > 高端FPGA数字平台 – 100MHz超低功耗数字化仪,精密TCXO计时,信噪比卓越。
  • > 双通道双脉冲收发器 – 独立双脉冲发生器和接收器,支持双晶/单晶探头,PRF高达250Hz。
  • > 1/4英寸AMOLED彩色显示屏 – 320x240像素,60Hz刷新率,室外强光下清晰可视,多色A扫描/RF显示。
  • > 全方位测量模式 – 脉冲-回波(P-E)、回波-回波(E-E)、穿过涂层测量(E-EV)、涂层厚度(CT)、PECT及温度补偿模式。
  • > 智能增益调节 – 100dB可调增益 + 自动增益控制(AGC) + 时间相关增益(TDG),斜率可调,轻松应对复杂材质。
  • > 海量存储与输出 – 内置4GB SD卡,网格/顺序数据存储,BMP截图,USB Type-C高速传输及供电。
  • > 耐用工业设计 – 挤压铝机壳,密封垫圈,工作温度-10~60℃,重仅385g,三节5号电池/USB供电,5分钟自动关机。
  • > 美国制造,NIST可追溯 – 符合NIST及MILSTD-45662A标准,品质可靠。

先进测量功能详解:

CMX3-DL提供了业界领先的测量组合:
> 脉冲-回波(P-E)模式用于标准壁厚测量;
> 回波-回波(E-E)模式可穿透涂层直接测量金属基体厚度,忽略表面涂层厚度,测量范围达2.54~152.4mm;
> 脉冲-回波涂层(PECT)模式同时显示金属厚度和涂层厚度;
> CT涂层模式独立测量涂层(0.0127~2.54mm);
> 温度补偿模式(PETP)适合温度变化环境下的精确测厚。
> 所有模式均可配合100dB增益范围和TDG,保证测量稳定性
> 仪器同时具备:A扫描波形显示(检波+/-/RF全波)及B扫描截面视图,厚度条形扫描


常规可选探头:

DAKOTA CMX3-DL超声波测厚仪常规可选探头表
探头型号 频率 晶片直径/说明 典型应用
 T-102-2900  5.0MHz  晶片Ø6.35mm,防磨面Ø9.53mm
测量范围:1.0~152.4mm(钢)
 标准CT双晶探头,可测涂层,随机配置
 T-402-5507  15MHz  晶片Ø6.35mm  单晶接触式,用于薄材料及精细分辨
 T-4023-2855  5MHz  晶片Ø6.35mm  单晶接触式,穿透力强,适用于粗晶/铸件
 T-4023-4855  10MHz  晶片Ø6.35mm  单晶接触式,通用中频,精度高
 T-702-4326  2.25MHz  晶片Ø12.7mm  双晶探头,用于厚壁、衰减材料

*更多高温探头、延迟块探头、微型探头请联系简测实业销售工程师。


温馨提示:
本产品为专业工业测量仪器,建议由经过培训的专业人员操作使用。如需技术咨询或购买,请联系我们的销售工程师(189-3994-5529)

 



版权所有 © 简测实业(上海)有限公司    备案号:沪ICP备17008076号-2    技术支持:上海简测    sitemap.xml

服务热线
189-3994-5529
简测实业微信客服二维码

添加好友