达高特 PMX3-DL 高精密超声波测厚仪（彩色A/B扫描）

核心特性

• FPGA 100MHz数字平台 – 超低功耗数字化仪，精准TCXO计时，分辨率高达0.001mm。
• 可调方波脉冲发生器 – 100V/150V/200V电压可选，脉冲宽度（尖/窄/宽）可调，重复频率最高250Hz。
• 110dB增益范围 – 手动增益和自动增益控制（AGC），根据测量模式智能适配。
• 时间相关增益（TDG） – 可调起点和斜率，补偿远距离回波衰减。
• 可调阻尼 – 30/50/75/300/600/1500Ω六档可选，优化探头匹配。
• 高亮彩色显示 – PMX3-DL采用1/4英寸AMOLED彩屏（320x240），60Hz刷新率，支持横屏/竖屏显示。
• 多种扫描模式 – A扫描（检波±/RF全波）、B扫描（时间截面）、大数字模式及厚度条形扫描。
• 大容量存储 – 内置4GB SD卡，网格/顺序数据结构，截屏功能，USB Type-C数据导出。
• 坚固耐用 – 挤压铝机壳，密封垫圈，IP防护等级，工作温度-10~60℃。

精密测量模式与技术参数

测量模式	界面-回波(I-E): 1.27~25.4mm(钢)，0.127mm起(塑料) 界面-回波-回波(I-E-E): 0.152~12.7mm(钢) 脉冲-回波(P-E): 1~9.14mm(钢) 回波-回波(E-E): 2.54~914.4mm(钢) 回波-回波验证(E-EV): 2.54~152.4mm(钢)
分辨率/声速	0.01mm / 0.001mm可选；声速范围309.88~18542m/s，一点/两点校准或材料表选择。
脉冲发生器	可调方波 (-V尖/窄/宽)，脉冲重复频率最高250Hz，电压100/150/200V。
接收/增益	110dB动态范围，手动/AGC，TDG可调起点及斜率。
阻尼选择	30Ω / 50Ω / 75Ω / 300Ω / 600Ω / 1500Ω。
探头接口	LEMO 00型，兼容1~25MHz单晶延迟块/接触式/笔式探头。

显示功能与视图

• PMX3-DL彩色AMOLED：1/4英寸，320x240像素，可视区43.2x57.6mm，60Hz刷新率，支持横竖屏切换。
• A-扫描：检波（正/负）全波RF模式，实时波形显示缺陷现场。
• B-扫描：基于时间的横截面视图，显示速度10~200个读数/秒。
• 大数字模式：厚度数值高度14.35mm，适合远距离读数。
• 厚度条形扫描：10~33Hz动态指示，配合稳定度指示符提高测量信心。
• 闸门与报警：三个独立闸门，上下限视听报警，快速扫描最小值捕获（250读数/秒）。

数据存储 & 连接性

内置4GB SD卡，可存储海量厚度值和波形截屏。数据结构支持网格（字母数字）及顺序自动识别，通过USB Type-C接口连接PC快速导出数据。64个用户自定义设置，支持出厂设置恢复，极大提升工作效率。

物理与环境规格

电源	三节AA碱性电池（续航约15小时），USB Type-C供电，无操作5分钟自动关机。
外壳材质	挤压铝机身 + 镀镍铝底盖（密封垫）
尺寸/重量	165 x 63.5 x 31.5 mm，仅385g (含电池)
工作温度	-10℃ ~ 60℃
符合标准	NIST & MIL-STD-45662A可追溯

常规可选探头（适用于PMX2-DL / PMX3-DL）

探头型号	频率	测量范围(钢)	防磨面直径/晶片	说明
T-402-5507	15MHz	0.152~25.4mm	晶片φ6.35mm	标准延迟块探头（标配）
T-402-6507	20MHz	0.152~19.05mm	晶片φ6.35mm	高分辨率延迟块探头
T-4903-2875	5MHz	0.508~76.2mm	晶片φ3.18mm，防磨面φ6.35mm	通用接触式探头
T-4903-4875	10MHz	0.254~76.2mm	晶片φ3.18mm，防磨面φ6.35mm	高精度接触式探头
T-4023-2855	10MHz	0.508~152mm	晶片φ6.35mm，防磨面φ9.53mm	大范围接触式探头
T-4023-4855	10MHz	0.254~152mm	晶片φ6.35mm，防磨面φ9.53mm	增强型接触式探头
T-481-4507	10MHz	0.152~12.7mm	延迟块前端φ1.59mm	笔式探头(小管径/窄间隙)
T-681-4507	10MHz	0.152~12.7mm	延迟块前端φ1.59mm，直角	90°笔式探头(受限空间)

※ 探头线标配1.2米，LEMO接口。支持频率范围1~25MHz单晶探头，更多型号可咨询销售工程师。

应用场景与优势

PMX3-DL适用于航空航天、石油化工、金属加工、汽车制造等领域，可精准测量薄壁管材、塑料部件、腐蚀剩余厚度及多层材料。结合界面-回波模式，穿透涂层直接测量基体厚度；回波-回波模式有效避开表面覆层影响。彩色A扫描与B扫描视图帮助评估缺陷形状，是质量控制和实验室研究的理想工具。

※ PMX2-DL为灰度显示版本（1/8英寸 VGA，25Hz刷新率），同样具备相同测量性能；PMX3-DL为彩色AMOLED高刷版本，更适合复杂波形判读。两款型号均支持所有测量模式与探头配置。