达高特 CMXDL+ 超声波测厚仪

CMXDL+超声波测厚仪性能全面，功能强大。搭载多种测量模式，可匹配双晶探头和单晶探头（延迟块、接触式、笔形），拥有USB Type-C数据接口，内置4GB SD存储卡。

- 100MHz FPGA时序电路设计

- 可选彩色和灰度显示屏

- A/B扫描

- 手动调节增益和自动增益控制（AGC），范围：100dB

- 自动时间相关增益（TDG）

- 多种测量模式

· 脉冲-回波（P-E）模式：测量材料厚度

· 脉冲-回波涂层（PECT）模式：同时测量材料和涂层厚度

· 脉冲-回波温度补偿（PETP）模式：测量材料厚度

· 回波-回波（E-E）模式：穿过涂层测量材料厚度

· 回波-回波验证（E-EV）模式：穿过涂层测量材料厚度

· 测量涂层（CT）模式：只测量涂层厚度

- 双晶探头和单晶探头（延迟块、接触式、笔形）

- USB Type-C数据接口

- 内置4GB SD存储卡

测量：

- 脉冲-回波（P-E）模式测量范围：0.63mm~30.48mm（钢）

- 脉冲-回波涂层（PECT）模式测量范围：0.63mm~30.48mm（钢），0.0254~2.54mm（涂层）

- 脉冲-回波温度补偿（PETP）模式，测量范围：0.63~30.48mm（钢）

- 回波-回波（E-E）模式测量范围：2.54~152.4mm（钢，穿过涂层测量，范围取决于涂层）

- 回波-回波验证（E-EV）模式测量范围：2.54~102mm（钢，穿过涂层测量，范围取决于涂层）

- 测量涂层（CT）模式测量范围：0.0127~2.54mm（涂层）

- 分辨率：0.01mm和0.001mm

- 声速范围：309.88~18542m/s

- 单位：公制或英制

- 一点和两点校准方式

显示：

- 显示屏：1/8英寸VGA灰度显示，240x160像素

- 可视区62x45.7mm，EL背光，20Hz刷新频率。可选1/4英寸彩色显示屏，320x240像素，可视区43.2x57.6mm，60Hz刷新频率

- A-扫描方式：检波+/-（缺陷视场），RF（全波视场），纵向和横向视图（仅彩屏）

- B-扫描方式：基于时间的横截面视图。显示速度为每秒10到200个读数

- 大数字方式：标准厚度显示，数字高度17.78mm（灰度），14.35mm（彩屏），厚度条形扫描：速度10Hz，在B-扫描和大数字显示模式中可见

- 稳定度指示：表示测量值的稳定性

- 功能状态指示：显示当前激活的功能

超声波参数：

- 测量模式：P-E、PECT、PETP、E-E、E-EV、CT模式

- 脉冲：可调方波脉冲发生器

- 接收：根据选择模式采用手动调节增益或自动增益控制（AGC），范围：110DB

- 阻抗：50~1500Ω可调

- 计时：单次100MHz8位超低功耗数字化仪的精确TXCO计时

- 脉冲重复频率：250Hz

探头：

- 频率范围：1~20MHz

- 双晶探头

- 延迟块、接触式、笔形单晶探头

- LEMO接口，1.2米探头线

- 可定制用于特殊应用的探头

存储：

- 容量：内置4GB SD卡

- 数据结构：网格（字母数字）和顺序（自动识别）

- 截屏功能：位图图形捕获，用于快速记录

其他：

- 键盘：12个触摸键

- 电源：标配为三节5号碱性电池，电量状态指示。无操作五分钟后自动关机。USB Type-C供电

- 外壳：挤压铝机壳，底盖用镀镍铝板加密封垫封装

- 工作温度：-10~60°C

- 尺寸：63.5x165x31.5mm

- 重量：385g（包括电池）

- 符合NIST和MILSTD-45662A标准

探头参数：

探头型号	频率	探头尺寸	说明
T-102-2900	5MHz	晶片直径6.35mm，防磨面直径9.53mm，测量范围1.0~152.4mm	高阻抗双晶探头（标配探头）
T-042-5507	15MHz	晶片直径6.35mm	单晶延迟块探头
T-4023-2855	5MHz	晶片直径6.35mm	单晶接触式探头
T-4023-4855	10MHz	晶片直径6.35mm	单晶接触式探头